日期:2012-05-16~2012-05-18
城市:上海
地址:浦东新区龙阳路2345号
展馆:上海新国际博览中心
主办:中国可再生能源学会（CRES）上海科学技术开发交流中心（SSTDEC）上海市经济团体联合会（SFEO）
Enli Tech提供与ISE同等级的大光斑光谱响应量测系统，光斑面积可达156 mm x 156 mm，您在制作二级标片的同时，可进行光谱响应的量测，降低标片的光谱失配因子!!
遵循ISE的测试流程，复制完美的二级标片，您的效率将不会再无故消失!!
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