型号规格

JQ-B240

测试系统

测试模组/成像模组 / 暗室模组

检测时间 （S）

1~5S

检测对象

晶体硅组件；单晶/多晶

检测方式

白天暗室检测/夜晚支架上组件直接检测

可判断缺陷类型

隐裂/断栅/黑心/黑边/低效率片/烧结网纹/碎片/边缘过刻/材料缺陷

成像系统

分辨率：2400W，

自动对焦

内置无线传输模组/外接远程无线wifi

暗室系统

暗室帐篷

面积(mm)：2200*2200*1300（可定制）

上电电源（可选）

直流稳压电源 60V10A（标配）

便携式发电机（可选）

多组件供电电源（可选）

上电模式

手动连接组件上电