PID全称“Potential Induced Degradation”,即“电势诱导衰减”。光伏产业界近年来对这一现象高度的重视,原因是PID现象会导致组件产生严重的功率损失,开压和填充因子显著下降,组件EL变黑,甚至是完全变黑。PID的产生和组件封装材料、电池减反射膜的特性以及使用环境的温湿度密切相关。
业内通用标准是在温度60°C、相对湿度85%、电压±1000V的环境下进行96个小时PID测试,组件功率衰减不超过5%即为合格,衰减在2%以内即为优秀标准。中来双面组件测试温度比通用标准高出25°C,衰减不到0.15%,功率稳定性表现出众,证实了在高温、高湿环境下双面组件优异的可靠性。
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近日,中来光电随机送检的两款N型双面组件以优异表现顺利通过TÜV南德严苛的96小时双85抗PID测试,两款组件测试成绩均远远高于行业功率衰减2%的优秀标准。「N型双面双玻组件」在温度85℃、湿度85%、电压1500V的